DektakXT台阶仪的技术特点
DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二管的研发以及材料科学领域。
DektakXT台阶仪-表面轮廓仪能实现：
使用温度条件：10-30℃；湿度：≤80，无冷凝
性能，台阶高度重现性低于4埃
Single-arch设计提供具突破性的扫描稳定性
**的“智能电子器件”设立了新低噪音基准
新硬件配置使数据采集时间缩短40
64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了10倍
频率，操作简易
直观的Vision64用户界面，操作简易
针尖自动校准系统
布鲁克（Bruker）以实惠的配置实现高的性能
单传感器设计，提供单一平面上低作用和宽扫描范围
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